埃科光電 I-TEK - 線光譜共焦感測器

線光譜共焦感測器
線光譜共焦感測器
線光譜共焦感測器
  • 基於同軸式光譜共聚焦技術開發而成。
  • 提供高達40KHz掃描速度、最大測量視野10.2mm,X方向解析度可達1.875μm,Z方向重複精度可達50nm。
  • 具有高精度、高速度、多功能、無接觸線上檢測等優勢,為半導體、消費電子和動力電池等精密製造行業提供卓越檢測方案。

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型號驅動方式控制單元顯微鏡組打光方式倍率型錄
SG4025  輪廓線點數:4096 掃描速度: 4.4~18kHz X軸輪廓資料間隔:2.5μm Z軸線性度(單點):±1μm Z軸重複精度(鏡面):0.25μm   
SG1007  輪廓線點數:1280 掃描速率:8.2~37kHz X軸輪廓資料間隔:1.875μm Z軸線性度(單點):±0.25μm Z軸重複精度(鏡面):0.05μm   
SG1110  輪廓線點數:1280 掃描速率:7.3~37kHz X軸輪廓資料間隔:9.3μm Z軸線性度(單點):±4μm Z軸重複精度(鏡面):1μm   
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