在高速線掃描（Line Scan）檢測中，為了讓目標瑕疵更「凸顯」、更容易被演算法穩定辨識，常見作法是採用兩站或多站的打光與取像：

每一站用不同光源角度或波長取得影像，再分別做影像處理與缺陷判定。這種架構雖然能有效提升瑕疵對比，但伴隨系統體積變大、相機與鏡頭套數增加，導致前期建置成本與後續維護負擔同步升高。

肯定資訊的「一站式分時曝光取像系統」：

在單一取像站位中，以一台 Line Scan 相機搭配多組光源，透過分時觸發的方式，在同一掃描流程內取得多波長／多角度影像，再將影像分解重建為各光源通道的圖像，供後續演算法判讀。藉由把多站能力整合到單站系統中，不僅能保留多通道成像的優勢，也能有效降低初期投資、簡化設備配置，並提升後續維護與擴充的便利性。

圖一：一站式分時曝光取像系統 

分時曝光取像原理：

● 每掃描一條線時，由相機向光源控制器發送一個光源觸發訊號。

● 分解每一張影像，重建每個光源通道所取得的影像。

 圖二：分時曝光取像原理

〈架構一〉一站式分時曝光應用

 圖三：〈架構一〉一站式分時曝光應用

一、具分時曝光功能及Strobe IO功能的線掃描相機+訊號轉換器組合

二、一台IWDV-SC系列控制器同時/單獨控制2條線型光源。(※每條光源需搭配一組訊號轉換器)

● 反應時間 : 3μs以下

● 各式 Leimac DC24V線型光源均可使用

● 最大接受頻率 : 50Khz

三、搭配ZEBRA Radient eV系列影像擷取卡以及Zebra Aurora Imaging Library（AILX）平台整合整體運算流程，來實現光源控制、影像擷取到演算法分析的完整自動化檢測解決方案。

● 埃科光電提供TDI相機與彩色相機搭配分時曝光的設定。

● 可突破分時曝光只能搭配單線 線掃相機掃描的限制。

● 以多線累加的方式提高亮度。

● 大多運用於高取像速度，低曝光時間運用上。