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2023-09-27

可同時檢查歪斜與刮痕< 新專利 >結構光類同軸

 LEIMAC 結構光外同軸- STFVA-PA100RB

特性: 

類同軸光源,適用於玻璃、樹脂高反射材質等表面瑕疵檢測,可將表面的歪斜與刮痕可視化。 

> Development of a new patented illumination Similar to coaxial light.

> Suitable for surface defect inspection on materials such as glass, resin and highly reflective surfaces.

> Enables visualization of surface distortions and scratches.

 示意圖: 

          

 

可同時檢查歪斜與刮痕:

一、紅光照射圖像(左圖):透過目標物上的反射點圖案來檢測表面的變形程度。

二、藍光照射圖像(右圖): 使用類同軸落設照明來檢查目標物表面的缺陷。

 

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