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2025-09-24

【深入解析】3D 相位差技術,如何讓量測精度高達 1/500?

還在煩惱無紋理物體難以量測?傳統立體視覺速度太慢?讓我們向您介紹廣受高精度檢測領域青睞的:Phase Shift 3D投影技術

該技術結合 LEIMAC 結構光IPHS-50B IJS-30M4-TP ISS系列高速閃頻控制器 與 Zebra Aurora Imaging Library (AILX),實現高解析、高速且穩定的 3D 量測。

*另搭配相機鏡頭 

甚麼是相位差演算法? 為甚麼能讓3D更精準?

透過投影多張固定相位位移的條紋圖樣至物體表面,搭配相機同步拍攝,使用Zebra AIL演算法精準分析條紋的亮暗變化,重建物體表面高度資訊,實現高解析的 3D 成像。

 量測精度最高可達深度範圍的 1/500 (實際精度會依照應用目的、環境條件及安裝方式有所差異) 

 可在20ms內完成3D重建處理 (時間會根據電腦效能與量測高度尺寸有所差異)

 相較於傳統方法,對硬體與場景大小的依賴較低,具備更穩定且高速的量測優勢

 

常見技術比較:

技術原理 依賴條件 限制
雙鏡頭立體視覺 表面需有紋理 對重複圖樣、無紋理表面效果差
雷射光切法 表面不限 需逐條掃描,速度慢
圖樣投影法 特殊硬體機構 圖樣切換機構複雜、成本高
✅ Phase Shift 3D投影 不依賴表面紋理 精度高、速度快、架構簡單

 

展示影片:

 

 

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